XRIS Dereo HE耐高電壓多用途DR
無損檢測高能多用途平板探測器
- 系統(tǒng)類別μm:
- 像素尺寸μm:
- A/D轉換:
- 成像面積mm:
無損檢測高能多用途平板探測器
Xris (X-ray Imaging Solutions)
比利時X射線數字圖像公司是歐洲領先的工業(yè)射線數字檢測方案的開拓者,是比利時發(fā)展最快的50家高科技企業(yè)之一,推出領先的GemX(寶石)系列便攜式射線機、Gxc移動式射線機、Dereo(迪瑞歐)射線數字成像系統(tǒng)(DR)。
產品為世界主流的工業(yè)無損檢測探傷產品,針對航空航天、國防軍工、運輸設備、機械制造、壓力容器、電力、石油化工、能源、安檢安監(jiān)、防爆安保和考古科研領域都有專業(yè)的射線檢測技術方案和配置。
Dereo(迪瑞歐)系列產品:
高分辨率小型探測器:HR0510;HR1010;
100μm高分辨率探測器:UP2530;UP3643;
高能多用途平板探測器:HE2530;HE4040;
在線式高能平板探測器:RAD2530,RAD4040。
Dereo HE 2530 高能多用途平板探測器
主要參數:
探測器類別:非晶硅/Gadox
射線耐壓:0-15MeV(兆伏=1000千伏)
像素尺寸:139μm
灰度等級(A/D):16 bits
成像面積:250*300毫米
外形尺寸:W471×H437×T27毫米
整機重量:8.5公斤
軟件:Xris Maestro V5.1.0
交流電源或自帶電池作業(yè)(持續(xù)工作6~8小時)
適用于航空&航天(NADCAP認證)、石化、機械和電力等的金屬材料、非金屬材料和復合材料的缺陷檢測
Dereo HE 4040 高能多用途平板探測器
主要參數:
探測器類別:非晶硅/Gadox
射線耐壓:0-15MeV(兆伏=1000千伏)
像素尺寸:200μm
灰度等級(A/D):14bits(可選16bits)
成像面積:400*400毫米
外形尺寸:W605×H586×T25毫米
整機重量:12.3公斤
軟件:Xris Maestro V5.1.0
交流電源或自帶電池作業(yè)(持續(xù)工作6~8小時)
適用于航空&航天(NADCAP認證)、石化、機械和電力等的金屬材料、非金屬材料和復合材料的缺陷檢測